OUR PRODUCTS

LEENO에서는 스프링 컨텍 프로브, IC 테스트 소켓, WLCSP 프로브 헤드, 2차 충방전 배터리 프로브 및 의료기기용 부품 등과 같은 다양한 테스트 옵션을 제공합니다.
우리의 경쟁력이자 장점은 주문 제작 방식의 맞춤형 솔루션을 제공할 수 있다는 것입니다. LEENO의 더 많은 제품군과 서비스를 확인하실 수 있습니다.

NEW PRODUCTS LINE

0.80mm Probe

High Speed 테스트 목적으로 특별히 설계된 가장 짧은 Spring Contact Probe를 보유하고 있습니다.

Large Device Test Socket

FEM 시뮬레이션(구조 변형/스트레스) 및 RF 시뮬레이션(112Gbps/224Gbps)을 통해 large-size 디바이스를 위한 일반/coaxial 테스트 솔루션을 제공할 수 있는 검증된 능력을 갖추고 있습니다.

Fine Pitch RF Probe Head

Wafer Level 테스트를 위한 Fine Pitch RF 프로브 헤드를 제공할 수 있습니다. 디바이스 Pitch 130μm 이상의 멀티 사이트 및 대량의 핀 수를 지원합니다.

Fine Pitch, Large Pin Count Probe Head

Wafer Level 테스트를 위한 Fine Pitch 대량의 핀 수의 프로브 헤드를 제공할 수 있습니다. 92μm Pitch 이상 이거나 핀 수가 30,000개 이상인 경우에도 사용 가능합니다.

Fine Pitch Probe

Wafer Level (RF) 테스트 목적으로 특별히 설계된 가장 얇고, 가장 짧은 Fine Pitch Spring Contact Probe를 제공 합니다.

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Max. file size: 16 MB.
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Fast Delivery Speed

miri miri.
On time, every time.
Always ready, always able.