LEENO可以提供适用于晶圆级测试的小间距射频探针头,适用于器件间距≥130微米的多站点和巨量针数测试。


Specifications

Contact Object
Bump, Pad, Cu-pillar, etc.
Pitch
≥100um
Probe length
2.00mm ~ 3.50mm
Barrel diameter
0.10mm