OUR PRODUCTS

LEENO提供多种测试选项；弹簧接触探针、IC测试插座、WLCSP探针头、电池充放电探针和医疗组件，为您提供广泛的选择。 我们的竞争优势在于我们提供定制解决方案的能力。在这里，您可以深入了解LEENO提供的广泛产品和服务的详细信息。

NEW PRODUCTS LINE

0.80mm Probe

LEENO拥有特别用于高频测试目的而设计的最短弹簧接触探针。

Large Device Test Socket

LEENO已经证明具备通过FEM模拟（结构变形/应力）和射频仿真（112Gbps/224Gbps）为大型器件提供常规/同轴测试解决方案的能力。

Fine Pitch RF Probe Head

LEENO可以提供适用于晶圆级测试的小间距射频探针头,适用于器件间距≥130微米的多站点和巨量针数测试。

Fine Pitch, Large Pin Count Probe Head

LEENO可以提供适用于晶圆级测试的小间距巨量针数探针头,适用于间距≥92微米或针数超过30,000个的情况。

Fine Pitch Probe

LEENO提供最薄且最短的小间距弹簧接触探针，特别设计用于晶圆级（射频）测试目的。

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