Probe Head

최고의 가공기술과 설계 노하우를 바탕으로 개발된 Kelvin Probe Head는 높은 수명과 최적화된 Kelvin Contact으로 고 전류를 필요로 하는 웨이퍼에 대응이 가능합니다. LEENO 파인피치 프로브 또는 코브라 핀을 적용하여 92um 피치, 30K 포인트 이상의 Probe Head 제공이 가능합니다.


Package type
Wafer (WLCSP)
Testing Characteristics
Kelvin type, Cobra type, RF type

Product Series

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