Probe Head

최고의 가공기술과 설계 노하우를 바탕으로 개발된 Kelvin Probe Head는 높은 수명과 최적화된 Kelvin Contact으로 고 전류를 필요로 하는 웨이퍼에 대응이 가능합니다. LEENO 파인피치 프로브 또는 코브라 핀을 적용하여 92um 피치, 30K 포인트 이상의 Probe Head 제공이 가능합니다.

Specifications

Package type
Wafer (WLCSP)
Pitch
92㎛~
Testing Characteristics
Kelvin type, Cobra type, RF type

Product Series

Customized Solution for your needs

Leeno’s 100% in-house manufacturing process provides our customers with the best quality & fast delivery.

Contact us for more information

Click here >


Total interface solution

From Precision Machining to Injection (Molding), Plating/Coating, and Assembly, our Total Manufacturing Processes provides the highest quality products with the shortest production/delivery time to  ensure customer satisfaction.