Fine Pitch Probe
Wafer Level (RF) 테스트 목적으로 특별히 설계된 가장 얇고, 가장 짧은 Fine Pitch Spring Contact Probe를
제공 합니다.
Specifications
- Barrel diameter
- ≥75um
- Probe length
- ≥2.00mm
- Spring Force
- ≥3.00g (Customized)
- Frequency
- ≥50Ghz
Wafer Level (RF) 테스트 목적으로 특별히 설계된 가장 얇고, 가장 짧은 Fine Pitch Spring Contact Probe를
제공 합니다.