ウェハーレベルテストに使われるファインピッチRFプローブヘッドを提供できます。
デバイスピッチ130μm以上のマルチサイトおよび大量のピン数にも対応できます。


Specifications

Contact Object
Bump, Pad, Cu-pillar, etc.
Pitch
≥100um
Probe length
2.00mm ~ 3.50mm
Barrel diameter
0.10mm