Fine Pitch, Large Pin Count Probe Head
ウェハーレベルテストに使用されるファインピッチ&大量ピン数のプローブヘッドも提供できます。ピッチが92μm以上又はピン数が30,000本以上の場合でも使用できます。
Specifications
- Contact Object
- Bump, Pad, Cu-pillar, etc.
- Pitch
- ≥92um
ウェハーレベルテストに使用されるファインピッチ&大量ピン数のプローブヘッドも提供できます。ピッチが92μm以上又はピン数が30,000本以上の場合でも使用できます。