OUR PRODUCTS

LEENOは多様なTest optionを提供しています。Spring Contact Probe、IC Test Socket、WLCSP Probe Head、Battery充放電プローブ、医療部品など、幅広い選択肢を提供しています。
私たちの競争力は、Customized Solutionsを提供する能力にあります。
ここで、LEENOが提供する幅広い製品とサービスについて、より深い理解を得る事が出来ます。

NEW PRODUCTS LINE

0.80mm Probe

ハイスピードテストの目的に特別に設計された、最も短いスプリングコンタクトプローブを保有しています。

Large Device Test Socket

Offers test sockets for use on a wide range of packages (i.e., BGA, LGA, QFN, QFP, CSP, TSOP, SOP) and PoP; can be used for Multi-Parallelism, a total solution for the logic test socket.

Fine Pitch RF Probe Head

ウェハーレベルテストに使われるファインピッチRFプローブヘッドを提供できます。 デバイスピッチ130μm以上のマルチサイトおよび大量のピン数にも対応できます。

Fine Pitch, Large Pin Count Probe Head

ウェハーレベルテストに使用されるファインピッチ＆大量ピン数のプローブヘッドも提供できます。ピッチが92μm以上又はピン数が30,000本以上の場合でも使用できます。

Fine Pitch Spring Contact Probe

ウェハーレベル（RF）テストの目的で特別に設計された、最も細く、最も短いファインピッチスプリングコンタクトプローブを提供しています。

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Fast Delivery Speed

miri miri.
On time, every time.
Always ready, always able.